可控硅测量方法，可控硅测量方法 晶体管测试仪

双向可控硅怎么测量好坏

使用万用表测试双向可控硅好坏，关键在于触发性能与维持导通能力的验证。 判定电极首先需要找出三个引脚：TT2和G极。用万用表的电阻档（R×1或R×10）测量任意两脚间的电阻，若发现某两脚间正、反向电阻均为几十欧姆，这两脚便是T1和G极，剩下的一脚就是T2极。

判断双向可控硅是否损坏，最直接有效的方法是使用万用表进行电阻测量和触发能力测试。 万用表测量法（1）测量电阻将万用表拨至电阻档（R×100或R×1K档），测量三个引脚（TTG）之间的正反向电阻：- 正常情况：G极与T1极间有正反向电阻值；G与TT1与T2之间的正反向电阻值均接近无穷大。

双向可控硅的好坏可以通过以下方法进行测量：测量极间电阻法：使用万用表置于R×1k档，测量T2－TT2－G之间的正反向电阻，应接近∞。使用万用表置于R×10档，测量T1－G之间的正反向电阻，应在几十欧姆左右。

如果按照上述方法测量不出相应的结果，也说明该双向可控硅是坏的。

使用指针万用表可通过静态电阻检测、触发导通测试、导通保持验证三步，快速判断双向可控硅模块的好坏，优先选用R×1k档位，避免使用R×10k高电压档位防止击穿器件。

最简单的方法测量可控硅好坏

使用万用表测试可控硅的好坏 使用数字万用表测试取可控硅，从数据表中查找引脚功能，确定极性。将数字万用表设置为电阻测试功能。将测试线连接到A和K引脚，测试后切换测试线并重新测试。好的可控硅将显示高电阻，单位为兆欧值；坏的可控硅（短路）将显示0欧姆或低电阻。测试A和G引脚，同样切换测试线并重新测试。

判断可控硅的好与坏最简单的方法：用万用表判断时先将万用表的两只表笔接可控硅的两个端面，电阻应呈无穷大（表针基本不动），再将表笔反过来亦如此。若这两步测量时电阻很小，则说明该可控已损坏。

测量可控硅好坏的方法包括以下几个步骤：首先，将万用表调至电阻R×1Ω挡位，用红表笔和黑表笔分别测试任意两引脚间的正反向电阻。直到找到一对引脚，其读数在数十欧姆范围内。这时，黑表笔所接的引脚是控制极G，红表笔所接的是阴极K，未测试的引脚为阳极A。

或无穷大。若双向均有数值，说明G-K结损坏。

测量可控硅好坏的方法如下：测量阳极与阴极之间的电阻：使用万用表测量可控硅的阳极与阴极之间的正向和反向电阻。正常情况下，阳极与阴极之间的正向和反向电阻都应在几百千欧以上。测量阳极与控制极之间的电阻：同样使用万用表测量阳极与控制极之间的正向和反向电阻。

可控硅好坏判断可采用万用表测试：指针表选R×1k档、数字表选二极管档，通过极间电阻测量和门极触发导通测试判定，测试前需对被测件放电。 准备工作 选择万用表档位：指针式万用表拨至R×1k档（避免R×1/R×10档电流过大烧可控硅）；数字式万用表拨至二极管档（测量压降档）。

可控硅测量方法图解

1、使用万用表的R×100或R×1kΩ电平测量可控硅管脚间的电阻，确定三个电极。具体方法：用黑色表笔接可控硅的一个电极，用红色表笔依次接触另外两个电极。如果测量结果有几千欧姆（kΩ）的电阻值和几百欧姆（Ω）的另一个电阻值，则可以确定黑色探针连接到栅极G。

2、可控硅极性判断方法： 根据封装形式（外观）判断：普通晶闸管（可控硅）根据其螺栓型、扁平型、金属封装型、塑料封装型，可直观判断极性。螺栓型普通晶闸管螺栓端为阳极A，细引线端为栅极G，粗引线端为阴极K。扁平型晶闸管栅极为G，扁平端为A，另一端为K。金属封装的普通晶闸管，外壳为阳极A。

3、可控硅的测量方法主要包括电阻法、电桥法、电位差计法等多种方式，但在实际应用中，使用万用表检测是最常见且便捷的方法。下面将通过图解的方式详细说明如何利用万用表测量可控硅的好坏。首先，需要准备一块万用表，并将其设置为电阻测量档。

4、判断可控硅的好与坏最简单的方法：用万用表判断时先将万用表的两只表笔接可控硅的两个端面，电阻应呈无穷大（表针基本不动），再将表笔反过来亦如此。若这两步测量时电阻很小，则说明该可控已损坏。

5、首段结论：可控硅好坏测量需分电极判定和触发性能检测两步，使用万用表电阻档判断击穿、漏电及触发能力即可完成初步诊断。判定电极（三脚极性识别） 找控制极G与阴极K：用万用表R×100档测任意两脚间电阻，若某次测得电阻为几百欧姆，则这两脚分别为G极与K极，剩余一极为阳极A。

6、准备工作 选择万用表档位：指针式万用表拨至R×1k档（避免R×1/R×10档电流过大烧可控硅）；数字式万用表拨至二极管档（测量压降档）。释放残余电荷：断开可控硅所在电路，用绝缘导线短接阳极（A）与阴极（K），释放内部残余电荷，防止假导通误判。